专利择要显示，本申请履行例公开了一种TDEC的测试方法及干系设备，提升了均衡处理的能力，并降落了估计SER的繁芜度，便于较好地运用于旗子暗记损伤严重的场景。详细地，获取发射机发射的原始旗子暗记经由信道传输后的待测旗子暗记。根据至少一个第一抽头系数对待测旗子暗记进行第一均衡处理得到第一旗子暗记。获取原始旗子暗记对应的电平与第二抽头系数的乘积，并根据乘积对第一旗子暗记进行第二均衡处理得到第二旗子暗记。个中，所有所述第一抽头系数之和减去所述第二抽头系数的差值为1。获取第二旗子暗记的眼图，并在眼图的目标位置处采样得到第三旗子暗记。获取第三旗子暗记叠加目标噪声后的目标SER。根据SER门限对目标噪声进行调节以调节目标SER，以使得当目标SER即是SER门限时，根据调节后的目标噪声打算TDEC。
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